[C-12-15] ReRAMにおけるサイクル間変動特性の分析とモデリング
この講演は本会「学術奨励賞受賞候補者」の資格対象です。
キーワード：ReRAM、SPICEモデル、特性変動
抵抗変化型メモリ(ReRAM)の書き込み・消去サイクル毎の特性ばらつき(C2C変動)を回路シミュレーション用SPICEモデルに反映することを目的に，ReRAM電気特性の測定と統計解析を行った．多数回にわたるサイクル特性の測定結果を，時系列データ分析手法によりトレンド，季節性，および残差成分へと分解し，そのうち季節性成分をサンプルの平均的サイクル特性としてSPICEモデルにフィッティングした．なお，分解データには，サイクル毎に大きな残差成分が認められた。これは，スイッチング電圧のC2C変動を反映したものであり，この成分の振る舞いを考慮したモデリングが重要と考えられる．
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