[C-14-16] 光ユニタリ変換器を用いたアナログRoFビームフォーミングにおける製造誤差による特性劣化に関する調査
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キーワード:アナログRoF、シリコンフォトニクス、マルチビームフォーミング
高周波数の電波は伝搬距離が短いことから,基地局の高密度な配置が不可欠となっており,各基地局の負担を軽減するために,アナログRoF(ARoF)の利用が検討されている.ARoFには,基地局におけるD/A変換が不要であるという利点がある一方で,その運用には,従来の電子技術に取って代わる新技術が求められる.そこで本研究では,無線信号が載せられた複数のARoF信号を,光ユニタリ変換器によって位相制御することで,低干渉マルチビームフォーミングを可能とするシステムを提案している.本報告では,提案するシステムにおいて,光変換行列を構成する3dBカプラの製造誤差による,出射ビーム指向性への影響について報告する.
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