[C-14-5] 高感度偏光イメージセンサを用いた高周波電界イメージングの感度改善に向けた検討
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キーワード:電界分布計測、高感度偏光CMOSイメージセンサ、電気光学効果、EOイメージング
本研究では,我々が開発した高感度偏光イメージセンサと電気光学(EO)結晶を組み合わせた高周波電界イメージングの感度改善に向けた検討を行った.我々の高感度偏光イメージングシステムでは,各画素上にワイヤグリッド偏光子を搭載した偏光イメージセンサに一様な偏光子を重ねた2重偏光子構成とすることで,画素への入射光量を低減し,画素飽和を回避することが可能となる.そのため,大きな入射光量をEO結晶に入射可能となり,電界イメージングの感度改善が期待される.入射光量を変化させてSNRを計測した結果,画素の飽和特性を考慮すると,入射光量24 dBm以上にて,SNRが56 dB以上に向上することを明らかにした.
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