IEICE Society Conference 2023

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一般セッション

エレクトロニクス » 一般セッション(C)

[C-2B] マイクロ波B

Fri. Sep 15, 2023 9:00 AM - 11:45 AM 全学教育棟 本館 南棟 1階S11講義室

座長:池内裕章(東芝),平野拓一(東京都市大)

<34〜43>
マイクロ波研専

[C-2-43] Effect of Isolator-pad Power Dependence on Accurate RF Attenuation Measurements

ウィダルタアントン (産総研)

Keywords:減衰量測定、ミスマッチ、アイソレータ、電力依存性、VSWR

高周波減衰量は高周波回路の基本量の1つとして重要であり、高周波電力計測やアンテナ計測等をはじめ、多くの高周波・マイクロ波計測及び校正技術において利用されている。高周波減衰量は、無反射状態回路において、被測定器を挿入した前後の負荷 に吸収された電力の比により定義 されている。 高周波減衰量測定において、測定装置の電源側及び負荷側のインピーダンスが線路の特性インピーダンスに整合されない場合は、回路に多重反射が発生し、測定結果 に誤差 (ミスマッチ損失)が発生す る。このようなミスマッチの不確かさを軽減するために、両測定端にアッテネータやアイソレータなどのミスマッチ・パッドが付加される。また、アイソレータによるパッドは損失がほとんどないため、大きな減衰量測定に適している。しかし、アイソレータには電力依存性があることが懸念されており、ここではアイソレータによるミスマッチ・パッドを使用した場合の精密高周波減衰測定への影響を調べる。

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