Schedule 4 Like 0 Comment (0) [SO1-28] 不良品検出のための畳み込みニューラルネットワークとサポートベクタマシン設計支援ツール *永田 寅臣1、中島 健斗1、三木 康平1、渡辺 桂吾2 (1. 山口東京理科大学、2. 岡山大学) 【この講演のインタラクティブセッションを見る(Webページを表示)】