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技術動向解説セッション

[SS2] 技術動向解説セッション2
Deepfake Generation and Detection - An Overview（ディープフェイクの生成と検出）

Thu. Jun 10, 2021 2:30 PM - 3:00 PM メイン会場

※SSIIでのご講演および質疑応答では、翻訳および通訳をいたします。

[SS2-01] Deepfake Generation and Detection – An Overview（ディープフェイクの生成と検出）

*Huy H. Nguyen¹ (1. 総合研究大学院大学／国立情報学研究所)

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