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[4LT16-06（3P-0593）] 複製ストレスにおける染色体脆弱部位へのR-Loop依存性FANCD2集積メカニズム

〇岡本 裕介^1,2、岩嵜 航³、高橋 数冴³、久郷 和人⁴、小田 有沙⁴、河合 秀彦⁵、佐藤 浩一⁶、小林 航⁶、逆井 良⁷、高折 晃史²、山本 卓⁸、鐘巻 将人^9,10、田岡 万悟¹¹、磯部 俊明¹¹、胡桃坂 仁志⁶、印南 秀樹³、太田 邦史⁴、石合 正道¹、高田 穣¹ (1.京大・放生研・晩発、2.京大院・血内、3.総研大・先科、4.東大・院理・生物科学、5.広大・原医研、6.早大・先進理工、7.金医大・生化学1、8.広大・院理・分遺、9.遺伝研・分細工、10.総研大・遺伝、11.首都大・理工)

replication stress、R-loop、FANCD2、common fragile cite