第42回日本分子生物学会年会

2019年12月3日〜 2019年12月6日
福岡国際会議場・福岡サンパレスホテル&ホール・マリンメッセ福岡

[2P-0660(3PW-08-7)] 走査型イオンコンダクタンス顕微鏡（SICM）を用いた一粒子細胞外小胞計測

〇東宏樹¹、吉田孟史^2,3、周縁殊³、華山力成^2,3,4、福間剛士³、高橋康史^3,5 (1.金沢大学　理工研究域　電子情報学系、2.金沢大学　医薬保健学域　免疫学、3.金沢大学　ナノ生命科学研究所、4.JST CREST、5.JST さきがけ)

走査型イオンコンダクタンス顕微鏡（SICM）、エクソソーム、マイクロベシクル

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