Validity of Direct-gap Photoluminescence Analysis for Non-destructive Characterization of Oxide/Germanium Interface

2014 International Conference on Solid State Devices and Materials

2014年9月8日〜 2014年9月11日
Tsukuba International Congress Center (EPOCHAL TSUKUBA), Ibaraki, Japan

S. Kabuyanagi^1,2、T. Nishimura^1,2、T. Yajima^1,2、K. Nagashio^1,2、A. Toriumi^1,2 (1.Univ. of Tokyo、2.JST-CREST (Japan))