[PS-2-18L] Radio Frequency Characteristics in Tantalum Nitride Thin Film Resistor

^○S. H. Kwon¹, M. Nam¹, A. Kim¹, K. Kang¹, S. J. Chae¹, S. J. Lee¹, W. S. Sul², S. G. Pyo¹ (1.Chung-Ang Univ., 2.NNFC(Korea))

https://doi.org/10.7567/SSDM.2015.PS-2-18L