Switching Operation of Double-Layer Conductive Bridging RAM Investigated using In-situ Transmission Electron Microscopy

2016 International Conference on Solid State Devices and Materials

2016年9月26日〜 2016年9月29日
Tsukuba International Congress Center, Tsukuba, Japan

09:30 〜 09:50

^○M. Arita¹, S. Hirata¹, A. Takahashi¹, T. Hiroi¹, M. Jo¹, A. Tsurumaki-Fukuchi¹, Y. Takahashi¹ (1.Hokkaido Univ.(Japan))