The Japan Society of Applied Physics

12:00 〜 13:00

[LS-2-01] Keysight pulsed IV test solutions for novel non-volatile memories (NVM)

キーサイトの次世代不揮発メモリテストソリューション

Y. Okawa

Keysight Technologies Inc. is the world's leading electronic measurement company and has been providing semiconductor parameter analyzers and parametric test systems for more than 30 years. Keysight has developed solutions which help solve the technical challenges of advanced semiconductor manufacturing processes. In recent years, a need has emerged for a measurement solution to accelerate the development of novel, non-volatile, memories such as MRAM, ReRAM, and PCRAM. This seminar presents our recent development activities on new test technologies and solutions for emerging, novel, non-volatile memories.

キーサイト・テクノロジーは半導体パラメータアナライザやパラメトリックテスタを30年以上にわたり提供しており、先端プロセスを評価するソリューションを継続的に開発してきました。近年ではMRAM、ReRAM、PCRAMなどの次世代不揮発メモリの開発を加速するための計測ソリューションが求められています。本セミナーでは、キーサイトにおける次世代不揮発メモリテストへの取り組みと、最新のソリューションについてご説明します。
(本セミナーは英語版となります。)