EAGは米国最大手の分析会社です。EAGの日本拠点であるナノサイエンス株式会社では経験豊富なEAGの高度な分析サービスを比較的速い納期とリーズナブルな価格で25年以上にわたり提供させていただいております。
本セミナーでは、電子顕微鏡（SEM/TEM）による分析事例を中心とした半導体発光素子の不良個所特定技術と分析事例についてご紹介します。