Every day Keithley customers find new and exciting ways to use our products. See how customers like you are harnessing the power of our parameter analyzers, source measure units and other semiconductor test equipment to innovate across a variety of industries. Customer case studies include: <10 ns pulsing for non-volatile memory testing, IV-CV testing on high efficiency dual diode detectors, nanoprobing at 10 nm NMOS and PMOS transistors and more.


日々ケースレーのお客様は、私たちの製品を使用し新しく刺激的な手法を見つけ出しています。本セッションでは、私たちのお客様がさまざまな産業において革新的な製品や技術を生み出すために、パラメータアナライザ、ソース・メジャー・ユニットやその他半導体試験装置をどのように使用しているかご紹介いたします。そのケーススタディには、不揮発性メモリ試験での10nsec以下のパルス測定、高効率のデュアル・ダイオードのIV及びCV測定、10nmスケールのNMOS及びPMOSトランジスタへのナノプロービングによる測定等が含まれます。