2018 International Conference on Solid State Devices and Materials

2018年9月9日〜 2018年9月13日
University of Tokyo

16:36 〜 16:37

[PS-1-07] Stochastic Simulation of Breakdown Process for High-k Dielectrics

^○W. Liu¹, B. Chen¹, S. Gao¹, Z. Zheng¹, Y. Zhao¹ (1.Zhejiang Univ. (China))

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