2018 International Conference on Solid State Devices and Materials

2018年9月9日〜 2018年9月13日
University of Tokyo

16:55 〜 16:56

[PS-3-07] Mapping of Ni/SiN_x/n-SiC Structure Using Scanning Internal Photoemission Microscopy

^○K. Shiojima¹, T. Hashizume¹, M. Sato², M.B. Takeyama² (1.Univ. of Fukui (Japan), 2.Kitami Inst. of Tech. (Japan))

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