2018 International Conference on Solid State Devices and Materials

2018年9月9日〜 2018年9月13日
University of Tokyo

16:50 〜 16:51

[PS-6-21 (Late News)] Charge and Discharge Characteristics of On-chip CeO_x Electric Double Layer Decoupling Capacitors

^○K. Hisatsune¹, Y. Takaku¹, K. Sasa¹, T. Hoshii¹, I. Muneta¹, H. Wakabayashi¹, K. Tsutsui¹, K. Kakushima¹ (1.Tokyo Tech (Japan))

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