Characterization of Electron Field Emission from Si Quantum Dots with Ge Core/Si Quantum Dots Hybrid Stacked Structures

2019 International Conference on Solid State Devices and Materials

2019年9月2日〜 2019年9月5日
Nagoya University

10:53 〜 10:55

^○T. Takemoto¹, K. Makihara¹, A. Ohta¹, M. Ikeda¹, S. Miyazaki¹ (1.Nagoya Univ. (Japan))