2021年第68回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.2 探索的材料物性・基礎物性

[16a-Z23-1~11] 13.2 探索的材料物性・基礎物性

2021年3月16日(火) 09:00 〜 12:00 Z23 (Z23)

鵜殿 治彦(茨城大)、山口 憲司(量研機構)

11:15 〜 11:30

[16a-Z23-9] MBE 法による B-doped BaSi2膜の熱電特性評価

吉田 竜一1、辻 美紀江1、山下 雄大1、都甲 薫1、末益 崇1 (1.筑波大)

キーワード:半導体

本研究では新規熱電変換材料としてBaSi2に着目している。優れた熱電特性を有する熱電材料はレアメタルや有毒元素を含むことが多いのに対し、BaSi2は資源が豊富なBaとSiで構成されている。しかし、導電率は低く、高い熱電特性を達成するには、不純物を高濃度ドーピングし、キャリア密度を大きくする必要がある。そこで本研究では、MBE法により、Bを高濃度ド ーピングした BaSi2 を作製し、熱電特性評価をすることを目的とした。