第33回 エレクトロニクス実装学会 春季講演大会

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講演セッション » バウンダリスキャン設計

バウンダリスキャン設計

Tue. Mar 12, 2019 10:00 AM - 10:45 AM D会場 (E館E608)

座長:亀山 修一

10:00 AM - 10:15 AM

[12D1-01] バウンダリスキャンテスト回路を用いた待機モード時電気試験を可能にするTAPCの開発

〇池内 康祐1、神田 道也2、平井 智士2、四柳 浩之3、橋爪 正樹3 (1. 徳島大学工学部電気電子工学科、2. 徳島大学大学院先端技術科学教育部、3. 徳島大学大学院社会産業理工学研究部)

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