第35回エレクトロニクス実装学会春季講演大会

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一般演題

講演セッション » 複合

官能検査システム化技術・検査技術

Thu. Mar 18, 2021 10:45 AM - 11:55 AM A (A)

座長:野中 一洋

10:45 AM - 11:10 AM

[18A3-01] [依頼講演] 光散乱を利用した精密研磨製品の欠陥検出

〇坂田 義太朗1 (1. 産業技術総合研究所)

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