微小遅延故障検査容易化設計用テストクロック制御回路の検討

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一般演題

講演セッション » バウンダリスキャン技術

Thu. Mar 18, 2021 10:10 AM - 10:55 AM B (B)

座長:亀山修一

10:10 AM - 10:25 AM

〇福田康介¹、四柳浩之¹、橋爪正樹¹ (1. 徳島大学)

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