[G] ハード・ソフト磁性材料

[171] 顕微ラマン分光法によるFe-Si-B系アモルファス合金薄帯の応力測定

*吉岡 竜太郎¹、藤井 達也²、鈴木 庸久²、山口 誠³、高林 圭佑⁴ (1. 秋田県立大（院生）、2. 秋田県立大、3. 秋田大、4. 秋田大（院生）)

キーワード：軟磁性材料、アモルファス、Fe-Si-B、ラマン分光、引張試験、残留応力

アモルファス合金薄帯を用いたモータコアの製造過程において応力が残留し，磁気特性を劣化させるという課題がある．本研究では，顕微ラマン分光法によりFe-Si-B系アモルファス合金薄帯の局所的な応力測定を行った．