[G] Analysis/Characterization/Evaluation

[50] Some examples of crystal structure analysis with anomalous X-ray scattering using in-house AXS X-ray diffraction system

*Rayko SIMURA¹, Hisanori Yamane¹ (1. IMRAM, Tohoku Univ.)

Keywords:X線結晶構造解析、単結晶、X線回折、異常散乱、元素・サイト

X線異常散乱現象を利用した元素・サイト識別型の結晶構造解析を可能とした実験室系X線回折システムについて説明し、この装置を用いた解析結果を数例紹介する。