2015年第62回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(ポスター講演)

13 半導体 » 13.2 探索的材料物性・基礎物性

[12p-P8-1~14] 13.2 探索的材料物性・基礎物性

2015年3月12日(木) 13:30 〜 15:30 P8 (総合体育館)

13:30 〜 15:30

[12p-P8-12] BiVO4薄膜における表面状態の評価

〇久保 勇翔1、山本 伸一1、西谷 幹彦2 (1.龍谷大理工, 2.大阪大工)

キーワード:バナジン酸ビスマス、光電子収量分光、表面状態