2015年第62回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

6 薄膜・表面 » 6.6 プローブ顕微鏡

[13p-D9-1~11] 6.6 プローブ顕微鏡

2015年3月13日(金) 16:30 〜 19:30 D9 (16-304)

17:30 〜 17:45

[13p-D9-5] 非接触原子間力顕微鏡/力分光法によるNH3 反応Si(111)-(7x7) 表面上のNH2とH吸着基の識別

〇坂野 友樹1、稲村 竜1、富取 正彦2、新井 豊子1 (1.金沢大, 2.北陸先端大)

キーワード:原子間力顕微鏡、Si(111)、力分光