2015年第62回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

7 ビーム応用 » 7.6 イオンビーム一般

[14p-C1-1~8] 7.6 イオンビーム一般

2015年3月14日(土) 13:00 〜 15:00 C1 (6C-104)

14:00 〜 14:15

[14p-C1-5] イオン液体ビーム照射による有機系試料の二次イオン質量分析(SIMS)

〇藤原 幸雄1、齋藤 直昭1 (1.産総研)

キーワード:二次イオン質量分析、イオン液体、SIMS