[16p-Z03-1~10] 協奏的量子ビーム利用による実用材料研究のススメ ー新しいビームはいかがですかー

[16p-Z03-1] XANAMによるSi-Ge量子ドットにおけるX線誘起力変化の調査

〇鈴木 秀士¹、向井 慎吾²、田 旺帝³、野村 昌治⁴、藤森 俊太郎¹、池田 弥央¹、牧原 克典¹、宮﨑 誠一¹、朝倉 清高² (1.名大院工、2.北大触媒研、3.ICU、4.KEK-PF)

キーワード：X線、ゲルマニウム、元素分析

試料表面の化学分析をナノスケールで行う手法として、NC-AFMと放射光X線を組み合わせたX線支援非接触原子間力顕微鏡（XANAM）を開発してきた。これまでX線照射下のGe量子ドットを数ナノスケールの空間分解能でイメージングが可能であることを報告した。今回、Ge量子ドット像およびSi被覆Ge量子ドットのX線エネルギー依存性をより高精度に測定し、力変化の起源が共有結合力由来であるか検証する。