[17a-Z18-1~10] 9.2 ナノ粒子・ナノワイヤ・ナノシート

[17a-Z18-4] シリカナノ粒子2峰分散試料におけるOstwald成長の、原子間力顕微鏡による観察

〇重藤 知夫¹ (1.産総研 物質計測標準)

キーワード：凍結乾燥法、AFM、Ostwald 成長

サンドイッチ凍結乾燥法によるナノ粒子の基板展開の均一性と、その基板をAFMで計測して得られる粒径分布の精度を検証するため、シリカ2峰水中懸濁液（50nm径と100nm径）におけるOstwald成長過程の検出を行った。小粒子ほど粒径が早く減少することで２つの粒径分布ピークがわずかに移動する。他手法では検出困難なこの変化を上記手法で確認できた。