Atomic-resolution electron microscopy study on a soft/hard nano-composite interface for adhesiveness

13:30 〜 14:05

[C3-O2-01 (Symposium Invited)] Atomic-resolution electron microscopy study on a soft/hard nano-composite interface for adhesiveness

*Hiroshi Jinnai¹ (1. Tohoku Univ. (Japan))

キーワード：Adhesive Interface, Soft/Hard Nano-composite, Electron Microscopy, Electron Energy-Loss Spectroscopy (EELS)

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