飛跡検出法を利用した保障措置環境試料の粒子スクリーニング法の開発

講演情報

基盤セッション　放射性核種の分析化学・放射化分析・核鑑識

基盤セッション D:　放射性核種の分析化学・放射化分析・核鑑識

2022年9月17日(土) 14:20 〜 15:20 B会場 (206室)

座長:浅井志保(国立研究開発法人　産業技術総合研究所)

15:05 〜 15:20

[3B14] 飛跡検出法を利用した保障措置環境試料の粒子スクリーニング法の開発

*安田健一郎¹、鈴木大輔¹、宮本ユタカ¹、宇佐美秀彦² (1. 日本原子力研究開発機構、2. 理工科学株式会社)

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