10:45 〜 11:00 △ [8a-C11-7] Pseudo-MOS構造のC-V特性に及ぼす自然酸化膜の影響 〇鑓田 勲1、佐藤 伸吾1、大村 泰久1 (1.関西大学大学院理工学研究科システム理工学専攻電気電子情報工学分野)