2017年第78回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

16 非晶質・微結晶 » 16.1 基礎物性・評価・プロセス・デバイス

[7p-C24-1~20] 16.1 基礎物性・評価・プロセス・デバイス

2017年9月7日(木) 13:45 〜 19:00 C24 (C24)

梶原 浩一(首都大)、篠崎 健二(産総研)

17:00 〜 17:15

[7p-C24-13] Yb添加シリカガラスにおけるYb-O結合距離とフォトダークニングの相関

岡崎 朋也1、関谷 エジソン晴彦1、齋藤 和也1 (1.豊田工大)

キーワード:シリカガラス、フォトダークニング

Yb添加シリカガラスにおいて、フォトダークニングの原因とその抑制メカニズムを明らかにするために、Yb周辺の局所構造の解明を行っている。EXAFS測定を用いて、フォトダークニングとYb-O結合距離の相関が明らかになりつつあり、今回はその途中結果を報告する。