[2D05-09] 溶存核種・有機物

[2D05] HSe^-/Se₄^2-系の標準電極電位およびSeのXAFSスペクトル

*土井 玲祐¹ (1.原子力機構)

キーワード：セレン、標準電極電位、サイクリックボルタンメトリー、エックス線吸収微細構造

処分場環境下におけるセレン(Se)の溶存種がSe₄^2-、HSe^-のいずれなのかを熱力学計算により評価する場合、評価結果の信頼性を直接左右する標準熱力学データはSe₄^2-/HSe^-系の標準電極電位である。そこで、当該電位値を取得することを目的としたサイクリックボルタンメトリーを実施した。溶液バルクの酸化還元電位を制御することでSe溶存種をHSe^-にした後にサイクリックボルタンメトリーを実施し、(Se₄^2- +4H⁺ +6e^- ⇌ 4HSe-)反応によるボルタモグラムを取得した。このボルタモグラム上の半波電位のNa⁺濃度依存性から目的の電位値を取得した。また、Seが黄鉄鉱に取り込まれることにより、Seの地下水を介する移行が遅延されると期待されている。Se₄^2-が黄鉄鉱に取り込まれた場合にとる酸化数の評価に資するため、Seが取りうる種々の酸化数に対応するXAFSスペクトルを取得した。