15:15 〜 15:30
[2N13] 川崎大気浮遊塵の計測と計測法の検討
キーワード:PIXE分析、中性子放射化分析、大気粒子状物質、Ge半導体検出器
東京都市大学原子力研究所において大気浮遊塵を集塵したフィルターをPIXE分析して中性子放射化分析に代替できるかを検討した。この検証によってフィルターを試料にする前に何らかの処理を施す必要があるということが分かった。
一般セッション
II. 放射線工学と加速器・ビーム科学 » 203-3 ビーム利用・ターゲット
2017年9月14日(木) 14:45 〜 16:40 N会場 (N棟 N307講義室)
座長:近藤 孝文 (阪大)
15:15 〜 15:30
キーワード:PIXE分析、中性子放射化分析、大気粒子状物質、Ge半導体検出器