[2I04-09] 測定・積分実験

[2I07] Siにおける負ミューオン原子核捕獲反応によって放出される軽荷電粒子のエネルギースペクトル測定

*北藤 健太郎¹、川瀬 頌一郎¹、川田 哲平¹、渡辺 幸信¹、新倉 潤²、水野 るり恵³、友野 大⁴、石田 勝彦⁵、Hillier Adrian⁶ (1. 九大、2. 理研、3. 東大、4. 阪大、5. KEK、6. ラザフォードアップルトン研)

キーワード：ミューオン原子核捕獲反応、ソフトエラー、軽荷電粒子、エネルギースペクトル

近年、電子機器の信頼性問題の一つとしてソフトエラーと呼ばれる現象が注目されている。ソフトエラーとは放射線が電子機器に内蔵されている半導体デバイスに入射した際に発生する一過性の誤動作のことであり、地上でのその主な原因は宇宙線である。宇宙線の中でも負ミューオンは半導体デバイス中で停止した際に半導体の原子核とミューオン原子核捕獲反応を引き起こして新たな荷電粒子を発生させる。また、発生した荷電粒子もソフトエラーを引き起こすため、ソフトエラー発生確率の高精度な推定のためには負ミューオン原子核捕獲反応によって放出される荷電粒子のエネルギースペクトルが必要である。そこで、我々は英国Rutherford Appleton Laboratoryにおいて、Siにおける負ミューオン原子核捕獲反応によって放出される軽荷電粒子のエネルギースペクトル測定実験を実施した。本講演では、実験の概要及び結果について発表を行う。