サブミクロン領域のチップ間接続配線における信頼性試験とメカニズム解析

Presentation information

Oral presentation

講演セッション » 配線板とその製造技術

Mon. Mar 11, 2019 3:30 PM - 5:00 PM B会場 (E館E508)

座長:上原利久

4:00 PM - 4:15 PM

〇森田将¹、池田淳也¹、中田義弘¹ (1. 株式会社富士通研究所)

Abstract password authentication.
Password is required to view the abstract. Please enter a password to authenticate.