12:00 〜 13:30
[P24] APTによる電界蒸発を利用した金属試料内部のSTM観察手法の開発
キーワード：3次元アトムプローブ、STM
本研究ではアトムプローブトモグラフィー法（APT法）をナノスケールの元素分析および試料表面作製手法として使用し，走査トンネル顕微鏡（STM）にてAPT試料の高分解能観察を行う複合法の開発を行った．
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