12:00 〜 13:30 [P24] APTによる電界蒸発を利用した金属試料内部のSTM観察手法の開発 *植田 海人1、大石 純乃介1、黒川 修2 (1. 京大工(院生)、2. 京大工) キーワード:3次元アトムプローブ、STM 本研究ではアトムプローブトモグラフィー法(APT法)をナノスケールの元素分析および試料表面作製手法として使用し,走査トンネル顕微鏡(STM)にてAPT試料の高分解能観察を行う複合法の開発を行った.