[G] Analysis/Characterization/Evaluation

[173] Electron microscopy observation of crystal defects in polycrystalline BaFe₂As₂

*Satoshi HATA^1,2, Zimeng GUO¹, Koki MURAOKA³, Hongye GAO², Yusuke SHIMADA¹, Takaaki HARADA³, Shinnosuke TOKUTA⁴, Yuta HASEGAWA⁴, Akiyasu YAMAMOTO⁵ (1. FES, Kyushu Univ., 2. URC, Kyushu Univ., 3. IGSES, Kyushu Univ., 4. Graduate School, Tokyo Univ. Agric. & Technol., 5. Tokyo Univ. Agric. & Technol.)

Keywords:電子顕微鏡、超伝導体、結晶欠陥、ボールミル、焼結

鉄系超伝導体BaFe2As2の面状欠陥の電子顕微鏡微細構造と臨界電流特性の関係を報告する。面状欠陥は(001)に平行であり、ボールミル処理とプラズマ焼結の条件に依存して高密度に生成すると臨界電流特性が向上する。