スケジュール 2 16:15 〜 16:30 [1B1-109] 陽電子プローブマイクロアナライザーによる金属破断面直下の局所欠陥分析 ○藤浪 眞紀1、阿部 帆花1、満汐 孝治2、堀 利彦2、大島 永康2 (1. 千葉大学、2. 産業技術総合研究所) キーワード：陽電子消滅、破断面分析、原子空孔、ニッケル、水素脆化 抄録パスワード認証抄録の閲覧にはパスワードが必要です。パスワードを入力して認証してください。 パスワード 認証
