[18p-A13-1~14] 7.1 X線技術

△ [18p-A13-2] Talbot-Lau干渉計の光学条件の再検討による測定系の小型化

^○藤野翔¹，森本直樹¹，大嶋建一²，原田仁平³，細井卓治¹，渡部平司¹，志村考功¹ (阪大院工¹，筑波大²，名古屋大³)

キーワード：位相イメージング,X線,Talbot-Lau干渉計