[18p-C1-1~13] 13.2 半導体表面

[18p-C1-4] Si(111)表面へのNiイオン照射過程のリアルタイムSTM観察

^○武良光太郎¹，神岡武文²，木谷哲¹，今津研太¹，渡邉孝信¹ (早大理工¹，豊田工大²)

キーワード：scanning tunneling microscope,nickel silicide