2013年第74回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

13.半導体A(シリコン) » 13.1 基礎物性・評価

[20a-C9-1~12] 13.1 基礎物性・評価

2013年9月20日(金) 09:00 〜 12:15 C9 (TC3 2F-202)

09:45 〜 10:00

[20a-C9-4] 薄膜SOIにおけるUVラマンスペクトルのサイズ効果

多田哲也1,ウラジミール ポボロッチ1,森田行則2,右田真司2,パヴェル ゲシェフ3,金山敏彦4 (産総研-NeRI1,GNC-産総研2,ロシア熱物理学研究所3,産総研4)

キーワード:ラマン散乱,閉じ込め効果,ナノ構造