[20a-C9-1~12] 13.1 基礎物性・評価

[20a-C9-5] 導電性AFM探針による高密度一次元連結Si系量子ドットからの電子放出特性評価

^○（M2）竹内大智¹，牧原克典¹，池田弥央²，宮崎誠一¹ (名大院工¹，広大院先端研²)

キーワード：半導体,電子放出,量子ドット