2013年 第60回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

06.薄膜・表面 » 6.6 プローブ顕微鏡

[30a-D3-1~13] 6.6 プローブ顕微鏡

2013年3月30日(土) 09:00 〜 12:30 D3 (C5号館 3F-324)

[30a-D3-7] 多環境動作2探針AFMによるジアセチレン薄膜の表面電位評価 (10:45 AM ~ 11:00 AM)

広瀬政晴1,常見英加1,小林圭2,山田啓文1 (京大院工1,京大SACI2)

キーワード:導電性探針、ジアセチレン