[17a-PG1-1~24] 12.4 有機EL・トランジスタ

[17a-PG1-1] アルゴンガスクラスターイオンビームを用いたXPSによる有機ELデバイスの深さ方向組成解析

^○松尾修司^1,2，三井所亜子²，高橋真²，桒本清志²，本田幸司³，安達千波矢^1,4,5 (九大OPERA¹，コベルコ科研²，兵庫県工技セ³，九大WPI-I²CNER⁴，九州先端研⁵)

キーワード：有機EL,ガスクラスターイオンビーム,X線光電子分光