2014年第61回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

07.ビーム応用 » 7.2 電子顕微鏡,評価,測定,分析

[18a-F5-1~11] 7.2 電子顕微鏡,評価,測定,分析

2014年3月18日(火) 09:00 〜 12:00 F5 (F305)

11:45 〜 12:00

[18a-F5-11] スパッタ中性粒子のイオン化とその分布

寄崎理真1,齋藤玲子1,圷晴子2 (東芝生産技術センター1,東芝セミコンダクター社2)

キーワード:二次中性粒子質量分析法