[18p-F1-1~15] 7.1 X線技術

[18p-F1-5] Sparse Phase Stepping for Two Dimensional X-ray Talbot-Lau Interferometry

^○近藤剛史，山口公明，伊達崇，長井健太郎，佐藤玄太，半田宗一郎，田透，伊藤英之助，中村高士 (キヤノン)

キーワード：phase retreival