PDF ダウンロード スケジュール 5 いいね! 0 10:00 〜 10:15 [19a-D9-5] in situ XPSを用いた湿度制御時のGeO2/GeとSiO2/Siの濡れ性比較 ○有馬健太1,河合佳枝1,箕浦佑也1,齋藤雄介1,森大地1,川合健太郎1,細井卓治1,渡部平司1,森田瑞穂1,ZhiLiu2 (阪大院工1,バークレー国立研2) キーワード:X線光電子分光,濡れ性,極薄酸化物